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課程介紹：

隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，電子設(shè)計中所涉及到電子系統(tǒng)可靠性設(shè)計與測試尤其重要，為幫助廣大電子企業(yè)提高系統(tǒng)可靠性設(shè)計、測試水平和能力，學(xué)習(xí)和借鑒國外先進技術(shù)，中國電子標準協(xié)會決定分期舉辦“電子系統(tǒng)可靠性設(shè)計與測試”，本課程涉及電磁兼容設(shè)計、器件選型、降熱散熱計算、可使用性、環(huán)境可靠性、安全性、長期工作穩(wěn)定性、可維修性、電子工藝、電路板和元器件失效分析方法、電子系統(tǒng)可靠性測試等綜合知識進行整理匯總。

通過本課程，可以快速積累設(shè)計經(jīng)驗、在設(shè)計階段避免可靠性隱患問題、在樣機階段測試發(fā)現(xiàn)潛在隱患、在失效后快速發(fā)現(xiàn)問題點和失效機理及解決辦法。

培訓(xùn)對象：

項目經(jīng)理、系統(tǒng)工程師、測試工程師、技術(shù)部經(jīng)理、研發(fā)高管等

課程大綱：

1、電子可靠性設(shè)計原則

1.1 RAMS定義與評價指標；

1.2 電子、機電一體化設(shè)備的可靠性模型；

1.3 系統(tǒng)失效率的影響要素；

1.4 電子產(chǎn)品可靠性指標；

1.5 工作環(huán)境條件的確定；

1.6 系統(tǒng)設(shè)計與微觀設(shè)計的區(qū)別；

1.7 過程審查與測試；

1.8 設(shè)計規(guī)范與技術(shù)標準；

2、電路可靠性設(shè)計規(guī)范

2.1 降額設(shè)計：各種器件的降額參數(shù)和降額因子、結(jié)溫降額的計算、降額設(shè)計規(guī)范、參考標準；

2.2 電路熱設(shè)計規(guī)范：熱設(shè)計基礎(chǔ)、熱設(shè)計計算、散熱方案選擇、熱設(shè)計測試、散熱器件選型；

2.3 電路安全性設(shè)計規(guī)范；

2.4 電路板EMC設(shè)計規(guī)范；

2.4 PCB設(shè)計規(guī)范：電路基板設(shè)計規(guī)范、PCB布局設(shè)計規(guī)范、布線規(guī)范、阻抗匹配、模擬電路設(shè)計、PCB設(shè)計中地的分割方法和原則；

2.5 可用性設(shè)計規(guī)范：可用性設(shè)計要素、用戶操作分析、設(shè)計準則；

2.6 可維修性設(shè)計規(guī)范：可維修性設(shè)計要素、可維修性評估標準、設(shè)計方法；

3、元器件選型應(yīng)用與失效機理

3.1 電子元器件的選型基本原則；

3.2 分立元件：分類、特性、選型指標、失效機理、應(yīng)用注意事項（電阻、電容、二極管三極管、接插件、晶振晶體）

3.3 電控光學(xué)器件（光耦、LED）：特性、選型指標；

3.4 AD/DA：特性、選型指標、可靠性設(shè)計注意事項；

3.5 電控機械動作器件：特性、選型指標、可靠性、失效機理；

3.6 能量轉(zhuǎn)換器件：特性、選型指標；

（開關(guān)電源、電源變換芯片、變壓器）

3.7 數(shù)字IC：分類、特性、選型指標；

3.8 保護器件：分類、特性、選型指標；

（保險絲、磁環(huán)磁珠、壓敏電阻、TVS管等）

3.9 電源選型；

4、元器件失效機理與分析方法

4.1 常見元器件失效機理；

4.2 分析方法；

4.3 失效分析輔助工具；

5、可靠性測試

5.1環(huán)境條件測試項目及測試用例

溫度與熱、濕度、氣壓、環(huán)境條件變化率等測試項目及測試用例

5.2安全性測試項目和測試方法

安規(guī)測試項目和測試用例

氣、液、電混合布局安規(guī)測試用例

5.3可靠性測試項目與測試用例設(shè)計

模擬用戶現(xiàn)場測試、邊緣極限條件組合測試、HALT綜合測試、異常操作測試

過渡過程測試、突發(fā)干擾測試

5.4可維修性測試項目及測試用例

可維修性等級分類、可維修性測試項目、測試用例

5.5可生產(chǎn)性測試項目及測試用例

可生產(chǎn)性評估指標、可生產(chǎn)性測試項目、可生產(chǎn)性測試用例

5.6可用性測試項目及測試用例

易用性測試項目（人體工學(xué)、使用方便、易接受、舒適、高效，防錯）

人機工效評價工具應(yīng)用；

應(yīng)用人員測試項目及測試用例（生理、心理、素質(zhì)、緊急情況處理、輸入輸出條件組合）

5.7部件與獨立分系統(tǒng)測試項目及測試用例（機械、電氣、嵌入式軟件模塊測試項目、測試儀器、測試用例）

5.8其他

隨機文件和標識審查

包裝、運輸、存貯項目及效果驗證的測試用例

武老師

武老師：電子工程碩士，專長于電子產(chǎn)品系統(tǒng)可靠性設(shè)計與測試技術(shù)，曾任航天二院總體設(shè)計所設(shè)計師、項目經(jīng)理，機電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。

有電子產(chǎn)品、軍工、醫(yī)療設(shè)備、通信等專業(yè)方向的設(shè)計、測評和技術(shù)管理經(jīng)歷，對產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計、可靠性設(shè)計、技術(shù)管理有較深入研究，曾在學(xué)術(shù)會議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章。

曾為比亞迪、中電30所、29所、中科院聲學(xué)所、北京華峰測控、北京航天長峰、普析通用儀器、航天二院、航天五院、深圳藍韻、伯特利閥門集團、松下電工等企業(yè)提供專業(yè)技術(shù)輔導(dǎo)、培訓(xùn)和咨詢。

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